4月19日，中国电子学会正式公布了2025年度中国电子学会科学技术奖评审结果。我院詹文法教授牵头，联合悦芯科技股份有限公司、复旦大学、中国电子科技集团公司第五十八研究所共同完成的“高精度高效率多通道集成电路测试方法、设备及应用”项目，荣获技术发明二等奖。这是我校在集成电路测试技术领域取得的又一标志性成果。
该成果此前已于2025年8月25日通过中国电子学会组织的科技成果鉴定。鉴定委员会由多位行业权威专家组成，经听取报告、审阅资料、观看成果演示及质询讨论后，一致认为：项目整体技术处于国内领先地位，其中多通道信号同步等关键技术达到国际先进水平。
项目面向集成电路测试依赖进口设备、存在高精度、高效率及多通道测试等共性难题，发明了多通道分层协同架构等核心方法，突破了芯片测试瓶颈技术，成功研制了T800系列和TP系列高端芯片自动化测试设备。项目成果已在多家集成电路设计、制造及封测企业得到应用验证，产生了显著的经济效益和社会效益，为推动我国高端芯片测试装备自主可控提供了有力技术支撑。
詹文法教授长期深耕集成电路测试技术研究，注重产学研协同创新。此次获奖不仅是对其团队科研实力的高度认可，也彰显了我院在服务国家集成电路产业发展战略中的积极作为。学院将持续支持高水平科研团队建设，推动更多原创性、突破性成果落地应用。（撰稿、摄影：蔡雪原 编辑：田梦甜 审核：章礼华 赵丽丽）
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